前言
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO 2178:1982《磁性基本上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法》（英文版）。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 4659-1985《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO 2178:1982作如下編輯性修改；
a）用“本標(biāo)準(zhǔn)”代替“本國國際標(biāo)準(zhǔn)”；
b）取消了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言；
c）為便于使用，引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的國家標(biāo)準(zhǔn)；
d）增加了規(guī)范性引用文件。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：武漢材料保護(hù)研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：
——GB/T 4659-1985
1.范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測厚儀無損測量最磁性基體上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷曾）厚度的方法。
本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上測量。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測量優(yōu)先采用GB/T 13744規(guī)定的方法。
2.規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版本均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 12334 金屬和其他非有機(jī)覆蓋層 關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則（idt ISO 2064）
gb/t 13744 磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量（eqv ISO 2361）
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